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 보고서

ISSN  

12251046

서명/저자  

유도대전소자모델(FCDM)을 이용한 ESD에 의한 반도체소자의 손상 메커니즘 해석 / 김두현 ; 김상렬

발행사항  

서울 : (사) 한국산업안전학회, 2001.

형태사항  

pp. 57

키워드  

유도대전 소자모델 이용 ESD 반도체소자 손상 메커니즘

기타저자  

김두현

기타저자  

김상렬

기본자료저록  

산업안전학회지 : 2001년 6월호 (제16권 2호) 2001, 06

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Control Number  

shingu:131401