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반도체 검사용 프로브 카드의 열변형 해석
반도체 검사용 프로브 카드의 열변형 해석
Detailed Information
- 자료유형
- 보고서
- 서명/저자
- 반도체 검사용 프로브 카드의 열변형 해석 / 인정제
- 발행사항
- 서울 : 인덕대학 부설 산업기술연구원, 2004.
- 형태사항
- pp. 113-128
- 기타저자
- 인정제
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- shingu:247398
MARC
008080227s2004 ULKa a KOR■245 ▼a반도체 검사용 프로브 카드의 열변형 해석▼d인정제
■260 ▼a서울▼b인덕대학 부설 산업기술연구원▼c2004.
■300 ▼app. 113-128
■653 ▼a반도체▼a검사▼a프로▼a카드▼a열변형
■700 ▼a인정제
■773 ▼t산업기술연구원논문집 - 인덕대학 부설 산업기술연구원▼g2007년 11월 (제14집)▼d2004, 12
■URL ▼ahttp://library.induk.ac.kr/web
■SIS ▼aS033316▼b202512▼h3▼s2▼fD
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