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Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO2 Layer 및 Si-SiO2 Interface 연구
Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO2 Layer 및 Si-SiO2 Interface 연구 / 한병국
Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO2 Layer 및 Si-SiO2 Interface 연구

상세정보

자료유형  
 보고서
서명/저자  
Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO2 Layer 및 Si-SiO2 Interface 연구 / 한병국
발행사항  
경산시 : 경산대학교, 1997.
형태사항  
pp. 297-306
키워드  
AVALANCHE ELECTRON TRAPPING LAYER INTERFACE
기타저자  
한병국
기본자료저록  
논문집 - 경산대학교 : 1997년 12월 (제15집) 1997, 08
URL  
http://library.dhu.ac.kr/
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
shingu:216858

MARC

 008040915s1997        ULKa    a                          KOR
■245    ▼aAvalanche  Electron  Trapping에  의한  SiO2  Layer  및  Si-SiO2  Interface  연구▼d한병국
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■URL    ▼ahttp://library.dhu.ac.kr/
■SIS    ▼aS023635▼b216809▼h3▼s2▼fD

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