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도핑 프로파일 추출을 위한 SCM 모델링과 나노 영역의 C-V 곡선 해석
도핑 프로파일 추출을 위한 SCM 모델링과 나노 영역의 C-V 곡선 해석
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MARC
008040408s2004 ULKa a KOR■022 ▼a89950957
■245 ▼a도핑 프로파일 추출을 위한 SCM 모델링과 나노 영역의 C-V 곡선 해석▼d김용민
■260 ▼a충북▼b충청대학▼c2004.
■300 ▼app. 47-58
■653 ▼a도핑▼a프로파일▼a추출▼aSCM▼a모델링▼a나노▼a영역▼a곡선
■700 ▼a김용민
■773 ▼t공업, 자연과학편 - 충청대학▼g2004년 1월 (제25집)▼d2004, 01
■URL ▼ahttp://www.ok.ac.kr/
■SIS ▼aS022264▼b187653▼h3▼s2▼fD


