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VLSI 테스팅 설계 기법에 대한 연구
VLSI 테스팅 설계 기법에 대한 연구
상세정보
- 자료유형
- 보고서
- ISSN
- 12260312
- 서명/저자
- VLSI 테스팅 설계 기법에 대한 연구 / 이창희
- 발행사항
- 대구광역시 : 계명문화대학산업개발연구소, 2002.
- 형태사항
- pp. 257-265
- 기타저자
- 이창희
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- shingu:197322
MARC
008031110s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12260312
■245 ▼aVLSI 테스팅 설계 기법에 대한 연구▼d이창희
■260 ▼a대구광역시▼b계명문화대학산업개발연구소▼c2002.
■300 ▼app. 257-265
■653 ▼aVLSI▼a설계▼a기법▼a대한
■700 ▼a이창희
■773 ▼t계명연구논총 - 계명문화대학산업개발연구소▼g2002년 3월 (제20집)▼d2002, 03
■URL ▼ahttp://library.km-c.ac.kr/
■SIS ▼aS021067▼b197173▼h3▼s2▼fD


