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폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선
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폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선

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자료유형  
 보고서
서명/저자  
폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선 / 장성근
발행사항  
충청남도 : 청운대학교, 2005.
형태사항  
pp. 51
키워드  
금속 게이트 NNOSFET의 선택 산화 HOT CARRIER 신뢰성
기타저자  
장성근
기본자료저록  
논문집 - 청운대학교 : 2001년 1월호 (통권3호) 2005, 03
URL  
http://enter.chungwoon.ac.kr
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
shingu:187395

MARC

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