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폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선
폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선
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MARC
008030409s2005 HCKa a KOR■245 ▼a폴리, 금속 게이트 nNOSFET의 선택적 재 산화공정에 의한 Hot Carrier 신뢰성 특성 개선▼d장성근
■260 ▼a충청남도▼b청운대학교▼c2005.
■300 ▼app. 51
■653 ▼a금속▼a게이트▼aNNOSFET의▼a선택▼a산화▼aHOT▼aCARRIER▼a신뢰성
■700 ▼a장성근
■773 ▼t논문집 - 청운대학교▼g2001년 1월호 (통권3호)▼d2005, 03
■URL ▼ahttp://enter.chungwoon.ac.kr
■SIS ▼aS019103▼b187390▼h3▼s2▼fD


