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패키지 반도체소자의 ESD 손상에 대한 실험적 연구
패키지 반도체소자의 ESD 손상에 대한 실험적 연구
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MARC
008030114s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12251046
■245 ▼a패키지 반도체소자의 ESD 손상에 대한 실험적 연구▼d김두현▼e김상렬
■260 ▼a서울▼b한국산업안전학회▼c2002.
■300 ▼app. 94
■653 ▼a패키지▼a반도체소자▼aESD▼a손상▼a실험적▼a연구
■700 ▼a김두현
■700 ▼a김상렬
■773 ▼t산업안전학회지▼g2002년 12월호 (제17권 4호)▼d2002, 12
■URL ▼ahttp://www.kiis.or.kr
■SIS ▼aS018385▼b64777▼h4▼s2▼fP


