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논문 : PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석
논문 : PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석
Detailed Information
MARC
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■260 ▼a서울▼b한국세라믹학회▼c2002.
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■773 ▼t한국세라믹학회지▼g2002년 5월 (제39권 5호)▼d2002, 05
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