서브메뉴
검색
Details
논문 : PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석
논문 : PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석
Detailed Information
MARC
008020611s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12297801
■245 ▼a논문 : PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석▼d조성민▼e김용탁▼e서용곤▼e윤형도▼e임영민▼e윤대호
■260 ▼a서울▼b한국세라믹학회▼c2002.
■300 ▼app. 479
■653 ▼aPECVD▼a광학적▼a구조적
■700 ▼a조성민
■700 ▼a김용탁
■700 ▼a서용곤
■700 ▼a윤형도
■700 ▼a임영민
■700 ▼a윤대호
■773 ▼t한국세라믹학회지▼g2002년 5월 (제39권 5호)▼d2002, 05
■SIS ▼aS016817▼b64638▼h4▼s2▼fP
Preview
Export
ChatGPT Discussion
AI Recommended Related Books
Подробнее информация.
- Бронирование
- не существует
- Книга оказать запросу
- моя папка
- Первый запрос зрения
| Reg No. | Количество платежных | Местоположение | статус | Ленд информации |
|---|
* Бронирование доступны в заимствований книги. Чтобы сделать предварительный заказ, пожалуйста, нажмите кнопку бронирование


