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Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
상세정보
- 자료유형
- 보고서
- ISSN
- 12297801
- 서명/저자
- Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films / Seung-Hyun Kim ; Hyun-Jung Woo ; Chang Young Koo ; Jeong Seung Yang
- 발행사항
- 서울 : 한국세라믹학회, 2002.
- 형태사항
- pp. 341
- 기타저자
- Seung-Hyun Kim
- 기타저자
- Hyun-Jung Woo
- 기타저자
- Chang Young Koo
- 기타저자
- Jeong Seung Yang
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- shingu:174541
MARC
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■773 ▼t한국세라믹학회지▼g2002년 4월 (제39권 4호)▼d2002, 04
■SIS ▼aS016289▼b64638▼h4▼s2▼fP
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